全（quán）譜直讀電感耦合等離（lí）子體（tǐ）光譜儀 ICP-OES

全譜直讀電感耦（ǒu）合等離子（zǐ）體光譜儀 ICP-OES是新（xīn）一代全譜直讀型電感（gǎn）耦合等離子體發（fā）射光（guāng）譜（pǔ）儀，主要應（yīng）用於各類樣品中主量、微量及痕（hén）量元素的定性、半定（dìng）量和定量分析。

儀器以棱（léng）鏡、高分辨率中階梯光柵二維交叉色散（sàn）全譜直（zhí）讀型（xíng）光學（xué）係統為基礎，由進樣係統（tǒng）、射頻發生器、垂直等離子體炬、雙向觀測外光路係統、百萬像素大麵陣CCD檢測器、全質量流量計（MFC）氣體控製係統、分析軟（ruǎn）件和計算機係（xì）統組成。全自動控製，儀（yí）器監控儀表全部由計算機控製，儀器參數（shù）無需手動調節的等離子體發射（shè）光譜儀。儀器預（yù）熱時間短，以滿足（zú）生產科研需求。

優勢特點

• 主動隔離各功能模（mó）塊間的電、磁、熱所產生的幹擾疊加，帶來良好的分析穩定性和數據（jù）可靠性，為個性化分析條件提供有力保障

• 自（zì）主研發的（de）全固態晶體控（kòng）製型射（shè）頻發生器具（jù）有良好的（de）功率穩定性，增強（qiáng）基體改變時等離子體的耐受能力，有效功率可實時監控，基（jī）體匹配範圍廣，輕鬆應對（duì）高鹽、揮發性有機溶劑等複雜基體（tǐ）樣品

• 觀測模式多種可選：徑向觀測、軸向觀測、雙向觀測、軸向衰減、徑向衰減和雙向衰減，一次進樣實現全濃度覆蓋（ppb ~ %）

• 前光（guāng）路（lù）係統獨立吹掃，采用雙焦距超環麵反射鏡，具備良（liáng）好的成像能力；采（cǎi）用微正壓設計的光室密閉（bì）技術，節省深紫外區吹（chuī）掃時間，可節省氬氣，提高（gāo）測試效率（lǜ）

• 通過 MPS 多支柱（zhù）結構設（shè）計的 CCD檢測器與光室熱（rè）隔（gé）離，隔絕光室熱輻射，相同製冷能力下，降低暗電流，獲得更低的檢出（chū）限

• HiICP 軟件操作方便、直觀，具有定性、半定量、定（dìng）量分析功能，具有在線及離線兩種模式，即在分析樣品的同時，能同時進行測（cè）試